怎樣才能減少直讀光譜儀的誤差？由于精度要求很高，領域內只能盡量減少。卻不能完全避免。

   一、系統誤差的來源

   1.標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。

   2.標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產生系統誤差。

   3.澆注狀態(tài)的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數據會有所差別。

   4.未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統誤差。

   5.要消除系統誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統誤差，就需要采用化學分析方法分析多次校對結果。

二、偶然誤差的來源

　　與樣品成分不均勻有關的誤差。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導致不同部位的分析結果不同而產生偶然誤差。主要原因如下：

   1.熔煉過程中帶入夾雜物，產生的偏析等造成樣品元素分布不均。

   2.試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。

   3.磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時間太長和壓上指紋等因素。

   4.要減少偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可以重復多次分析來降低分析誤差。

三、其他因素誤差

   1.氬氣不純。當氬氣中含有氧和水蒸氣時，會使激發(fā)斑點變壞。如果氬氣管道與電極架有污染物排不出去，分析結果會變差。

   2.室內溫度的升高會增加光電倍增管的暗電流，降低信噪比。濕度大容易導致高壓元件發(fā)生漏電、放電現象，使分析結果不穩(wěn)定。